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倍加福 新型IO-Link双张传感器,实现可靠检测

  • 所属分类: 行业动态
  • 发布时间:2023-01-31
  • 浏览量:439
来自于超声波传感器技术专家倍加福的M18和M30设计的新型IO-Link双张传感器,比以往更加容易地实现可靠双张材料检测。无论是检测纸张、箔片、 …

来自于超声波传感器技术专家倍加福的M18和M30设计新型IO-Link双张传感器,比以往更加容易地实现可靠双张材料检测。无论是检测纸张、箔片、木材、金属,还是高反光的太阳能硅片, UDC-18GS-*IO-* 和 UDC(M)-30GS-*IO-* 传感器凭借其简单的参数化设置和更大的灵活性,能够从市场上的其他标准双张传感器中脱颖而出。

用于简单调试的预设阈值

超声波发射器和接收器的对射组合方案为解决方案提供了技术基础,通过使用超声波脉冲连续监测设备中物料的传送。传感器通过能量幅值变化来检测是否包含了第二层材料。在调试期间,设备通过集成的辅助对齐模式为用户提供安装支持,该装置使用LED序列来指示发射器和接收器是否正确对齐。此外,新型双张传感器为不同厚度的材料提供了三个预定义的阈值设置。用户可以通过连接传感器input端子或IO-Link快速简便地在这些不同设置之间进行切换。

如果应用除了预设之外还需要自定义设置,或者整个设备控制需要基于示教程序,可以通过使用PLC对传感器的示教输入进行更改。传感器通过数字量输出主动向控制器报告远程示教是否成功。这意味着新的双张传感器也可以十分便捷地集成到现有的设备上。另外,传感器内置的IO-Link接口可用于示教。对于通过IO-Link进行配置,倍加福还提供了采用基于PACTware软件的设备DTM和控制器的功能模块。

 

为了实现可靠的双张检测,要求传感器适用于各种检测材料。了解更多关于倍加福M18和M30系列双张传感器,实现更加简单可靠的双张检测。

具备IO-Link功能,更加深入可靠

除了简化调试和可在实际运行期间进行参数的功能外,双张传感器的IO-Link接口还为设备分析和维护开启了新的潜能。IO-Link接口允许访问所有传感器参数、诊断数据和过程数据,而无需额外工作。例如,根据当前正在运行的材料及其特定的声阻特征,过程数据的实时监控可以帮助检查传感器中的阈值是否匹配。这样就可以保证设置了正确的传感器参数,并且减少检测错误,从而提高设备的可用性

温度显示和工作小时计数器是额外的诊断工具,可以帮助实现可靠的状态监测和预测性维护。当需要维护时,定位功能有助于识别系统中受到影响的传感器:控制器使用特定的传感器指令来触发相关传感器,并通过闪烁的LED进行标识。这样,维护操作就能够准确及时地执行。

自动同步和推挽输出

如果双张材料检测应用中需要多个双张传感器相互靠近安装,新设备可以开启自带的自动同步功能。一个简单的线缆连接,可以支持多达10个传感器连接,防止它们相互干扰,从而进一步提高功能可靠性。与之前的版本不同,倍加福新型双张传感器配备了推挽输出,允许用户在国际标准下使用该产品,从而节省PNP和NPN版本的库存成本

产品特性

  • 用途广泛:从纸张到金属,只需一个设置即可实现简单的双张材料检测
  • 高可用性:集成IO-Link接口,允许访问传感器参数、诊断数据和过程数据
  • 快速调试:通过预设阈值、IO-Link或带反馈的示教功能
  • 过程可靠性:在受限空间内使用多个传感器时,传感器可以开启自动同步功能

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